由于标准硅基传感器通常仅对波长上限 1000 nm 敏感，因此 需要能够超越硅材料上限成像的传感器。InGaAs传感器通常用于 SWIR 成像，光谱范围覆盖 900 nm 至 1700 nm。我们的SWIR光束分析仪BND-S0503U-Basic，光谱范围覆盖400-1700nm，搭配软件可以分析光束的空间特性，例如尺寸、形状、位置、传播和模式结构特性等。
主要特征
400-1700nm 光谱范围
656 x 520 分辨率
5μm×5μm 像素大小
USB 3.0 高速接口
技术规格
| 产品名称 | BND-S0503U-Basic |
| 光谱范围 | 400-1700nm |
| 光束尺寸 | 50μm-2.6mm |
| 通信接口 | USB 3.0 |
| 传感器类型 | InGaAs |
| 兼容的光源 | CW, Pulsed |
| 有效面积 | 3.2 x2.6mm |
| 分辨率 | 656 x 520 |
| 像素大小 | 5μm×5μm |
| 快门 | 全局快门 |
| 外触发 | 支持 |
软件
典型应用
激光束轮廓分析
光电设备制造控制
光电测试和检验
光纤检查
产品质量监控
关于我们
深圳市博纳德精密仪器有限公司经营的产品有：FEMTO放大器、激光功率计、激光能量计、光束分析仪、氦氖激光器、摩擦系数检测、IP1x-6x防尘试验指、IPX1-X8防水试验设备、地板瓷砖摩擦系数检测仪、Munro摆式摩擦系数检测仪、DIN51130防滑测试、静摩擦系数测试仪asm825A、BOT-3000E美国ANSI137.1动摩擦系数测试仪等其它各标准摩擦系数检测仪，如有需求可以联系咨询我们。
高分辨率SWIR相机激光光束分析仪BND-S0503U-Basic
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