VSWIR 6.5是一款短波红外光束分析仪，波长范围覆盖 400 - 1700 nm，采用 InGaAs 传感器，像素尺寸为5.0µm，传感器尺寸为66.4 x 5.1，分辨率达1280x1024。该设备可精确测量光束直径、发散角、椭圆度及光束位置，最小光束直径测量精度优于1%。
特征
● 400 – 1700 nm 内提供最佳波长灵敏度
● 非常适合 SWIR 激光表征
● 灵活的 ND 滤镜
规格参数
| 型号 | VSWIR 6.5 |
| 传感器尺寸 (mm) | 6.4 x 5.1 |
| 传感器格式 | M |
| 1/2" | |
| 光谱范围 (nm) | 400-1700 |
| 分辨率 | 1280 x 1024 1.3 Mpx |
| 像素尺寸 (μm) | 5.0 |
| Shutter type | Global |
| 最小光束直径(Φ FWHM， μm)① | 25 |
| 最大采集帧率（fps）② | 72 |
| 最小曝光时间 | 16 µs |
| 最大曝光时间 | 500 ms |
| 动态范围 (dB) | 56 |
| 传感器类型 | InGaAs |
| 位深度 | 12 |
| PC接口 | USB 3.1 |
| 同步 | Yes (witd tde Trigger option) |
| 尺寸 (mm) | 36 x 39 x 46 |
1、最小光束直径的测量精度优于 1%。较小的光束直径也可以测量，但误差会逐渐增大。
2、根据计算类型，帧速率可能会有所不同。
光束分析仪软件 STAR
BeamPro 软件 STAR 使用标准通信协议，因此可以轻松集成到任何环境中。可以通过网络从远程屏幕控制多个 BeamPro。
● 实时提取光束特性
● 支持多种方法(包括 ISO 计算)
● 增强背景和热像素处理
● 高级日志记录
● 一键安装
VSWIR 6.5可见短波红外光束质量分析仪FemtoEasy
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