一、产品介绍
激光光斑光束质量分析仪BLC1515经过内部光学系统,将其传输到14.3 * 14.3 mm CMOS大靶面,可测试光束波长范围为300-1100nm,待测聚焦光斑直径从最小35 μm到 14.3mm。
通过软件软件可以显示光斑横截面的二维或者三维强度分布拟合图,同时可以显示光斑的两维方向的尺寸、椭圆度、相对位置、强度等量化数据等其它功能。
二、产品规格
型号 | BLC1515 |
波长 | 300-1100nm |
感光面积 | 14.3x14.3mm |
可测光斑 | 35μm-14.3mm |
像素 | 3.5um |
分辨率 | 4096x4096 |
位深度 | 12bit |
帧数 | 5 |
曝光时间 | 20μs - 500ms |
增益 | 0 - 36 dB |
触发 | 软触发/硬触发可选 |
饱和强度 | 40u W/cm2@ 633nm 600puW/cm2@1064nm |
灵敏度 | 0.3nw/cm2 |
工作温度 | 0-50°C |
尺寸 | 29x29x45mm |
工作模式 | 全局快门 |
接口 | USB3.0 |
类型 | CMOS |
三、公司介绍
深圳市博纳德自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率 CCD和CMOS面阵型光斑测量仪是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。产品波长范围覆盖266 ~17O0mm,像素最小达到2.5*2.5u m,探测器面积最大可达25*25mmLaserCheck 系列光斑分析仪不仅能实时显示激光2D/3D图像,导出光强分布数据,且提供激光束参数实时演示和分析能力,具体测量的参数包括:光束直径、光斑的形状、位置、功率、强度分布、椭圆度等众多参数,同时还提供了报表功能,记录光束分析设置和可实现激光光斑质量检测、光斑大小、光斑点稳定性、一维、二维、三维能量分布等多参数测量,纯中文操作界面,直观友好,功能非常强大。
14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析仪BLC1515
14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析仪BLC1515