高分辨率宽光束成像仪WB-I

一、Wide Laser Beam Imager

Ophir 宽光束成像仪附件是一种紧凑、经过校准的光学系统，用于测量 VCSEL、LED、边发射激光器和光纤激光器的大光束和发散光束的尺寸和功率分布。它采用 45 毫米扩散板，光源发出的光束投射到该扩散板上。然后，该图像缩小 8 倍，并重新成像到相机焦平面上。VCSEL、LED 和光纤激光器用于许多敏感应用。为了保证设备的高质量，必须分析光束轮廓，但这些宽而发散的光束对测量系统提出了特定要求：

● 传统光束分析仪的孔径太小，无法收集大型或发散光源的整个光斑。

● 常规探测器无法准确测量发散光束，因为探测器的量子效率高度依赖于入射角。WB-I 紧凑、坚固且便携的设计使客户能够在现场对 VCSEL 和 LED 系统进行光束分析，以及在生产线和研发实验室进行操作。

● 与标准光束轮廓仪传感器的 15° 相比，由于可以进行高达 70° 的角度测量，发散光束测量得到了显著改善。

● WB-I 附件与相机和 BeamGage 软件配合使用，可提供实时光束形状分析。可以轻松检测到由于不同电流而导致的光束形状变化。

● 通过一组可互换的滤光片或光圈，可变衰减能够测量不同发射功率的各种光源。

二、规格参数

三、应用

用于以下领域的研发、生产和服务：数据电信、汽车、遥感、人脸和手势识别

典型测量：远场能量分布、发散、LIV 扫描测试 VCSEL(光束轮廓与电流 (A))

四、应用示例

VCSEL 能量分布直接取决于电流、脉冲宽度和重复率以及器件温度等参数。因此，在制造过程的各个阶段以及研发和现场服务中测量 VCSEL 的角度分布至关重要。LIV 扫描测试中的 VCSEL 行为：当仅施加低电流时，VCSEL 处于所谓的“LED 模式"。一旦施加到 VCSEL 的电流上升，其光束轮廓就会变为“激光模式"：

高分辨率宽光束成像仪WB-I

高分辨率宽光束成像仪WB-I