深圳市博纳德自主研发的光斑分析仪是基于高分辨率CCD 和CMOS 面阵型光斑测量仪，是一款能够实时测量连续或脉冲激光束的实时诊断系统。目前包含3个不同型号产品，波长范围覆盖266~1700nm，像素最小达到2.5*2.5μm，探测器面积最大可达25*25mm。
LaserCheck系列光斑分析仪不仅能实时显示激光2D/3D图像，导出光强分布数据，且提供激光束参数实时演示和分析能力，具体测量的参数包括：光束直径、光斑的形状、位置、功率、强度分布、椭圆度等众多参数，同时还提供了报表功能，记录光束分析设置和可实现激光光斑质量检测、光斑大小、光斑点稳定性、一维、二维、三维能量分布等多参数测量，纯中文操作界面，直观友好，功能非常强大，目前已得到了广大科研和工业客户的一致认可。为了满足各客户特殊需求，我司还为客户提供定制的光束质量分析和一体化设计解决方案，如焦点分析仪、近场分析仪，且配套各类衰减方案和扩束、缩束模组，满足客户测量上百W功率和不同大小光斑大小的测试要求。
规格参数
| 型号 | BLC-SWIR-9070 |
| 感光面 | InGaAs |
| 波长范围 | 900-1700nm |
| 感光⾯积 | 9.6mm*7.68mm |
| 可测尺⼨ | 150um-7.68mm |
| 像素大小 | 15um |
| 分辨率 | 640x512 |
| 位深 | 12bit |
| 帧数 | 30 |
| 曝光时间 | us 到 1s |
| 增益 | 58dB |
| 触发 | |
| 饱和强度 | 0.2 μW/cm2 |
| 灵敏度 | |
| 工作温度 | 0-50℃ |
| 尺寸 | |
| 相机⼯作模式 | CMOS 全局快门 |
| 电脑接⼝ | USB |
配套衰减器(最高功率可测量>1000W)
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