高功率光束分析仪和功率测量系统

产品介绍

BeamPeek™ 系统可进行实时光束轮廓分析，包括焦点尺寸和位置监控，以及绿光和近红外范围内增材制造 (AM) 激光器的光束焦散和功率测量。它跟踪这些参数随时间的变化，以帮助维护制造部件的质量和可重复性。BeamPeek™ 集成了激光光束轮廓仪相机、功率计、光束收集器、光束分束器和光学器件，为工业环境中的增材制造激光分析提供全包解决方案。

BeamPeek™ 软件专为满足增材制造行业现场技术人员的需求而开发。它可以用最少的用户输入测量增材制造的基本参数。

BeamPeek 可在 1kW 功率下进行长达 2 分钟的连续测量，并采用被动冷却，无需风扇或通过可互换光束收集盒进行水/空气冷却。其工业设计使其易于集成到生产线中并进行激光特性分析，而不会干扰生产过程。

产品参数

产品名称 ： BeamPeek

光谱范围 ： 532 nm, 1030-1080 nm

最小光斑尺寸 ： 34.5 µm

功率范围 ： 10-1000 W

焦距 ： 150-800 mm

功率计校准 ： NIST traceable calibration ±3%

光束轮廓 ： ISO 11146 Measurements

CE 符合性 ： Yes

UKCA 符合性 ： Yes

中国 RoHS 符合性 ： Yes

软件

BeamPeek

BeamPeek 软件旨在满足增材制造领域技术人员的需求。它为增材制造行业提供符合 ISO 标准的光束焦散和功率测量的关键参数分析。

BeamPeek 工具

BeamPeek 温度传感器读数、焦平面和光轴位置的软件

常见问题

1、相机传感器/焦平面位于哪里?

与 BeamCheck 不同，BeamCheck 的焦平面设置使得当激光焦点位于床面时，相机传感器处于焦点中，而 BeamPeek 相机传感器距离底座/机床约 70 毫米(每个设备的准确值单独校准)。要使光束聚焦在相机传感器上，机床必须向下移动校准值。这种设置的原因是改进了功率处理：更高的最大功率和更长的高功率曝光时间。

2、BeamPeek 需要定期校准吗?

是的，因为 BeamPeek 包含 Ophir 常规功率计。

3、如果功率值高于或曝光时间超过允许的最大值，BeemPeek 会受到严重损坏吗?我如何知道设备是否损坏?

BeamPeek 在设计时考虑到了过载、功率或曝光时间等因素;如果超出了建议值，客户除了可以进行功能测试外，还可以进行简单的目视检查：拆除光束转储托盘、检查保护窗的清洁度(可以拆除并清除由于功率密度非常高或曝光时间过长而产生的排气)、拆除并检查扩散可互换镜头，并在拆除镜头的情况下透过系统光圈查看，以验证光学器件的完整性(以免功率过高)。

4、获取功率测量结果的最短等待时间是多久?

对于带有热头的功率计，功率测量的最短响应时间为 3 秒。

5、如果使用 NIR 激光波长 1070nm，则应选择哪个 PM 波长进行测量 1064nm 还是 1080nm?

选择接近激光波长的波长，在这种情况下 1064 比 1080 更接近。

高功率光束分析仪和功率测量系统BeamPeek

高功率光束分析仪和功率测量系统BeamPeek