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可变增益高速电流放大器FEMTO DHPCA-100参数

  • 发布日期:2026-03-05      浏览次数:32
    • 德国 FEMTO DHPCA-100 是一款可变增益高速跨阻放大器(TIA),专为将微弱电流信号转换为可用电压信号而设计,带宽高达 200 MHz,广泛应用于光电探测、激光物理、粒子检测等领域。价格根据汇率有所浮动,建议联系我们报价,我们是总代理有优惠的价格。

      技术参数

      ModelDHPCA-100
      Performance RangeLow NoiseHigh Speed
      Transimpedance [V/A]102103104105106107103104105106107108
      -3 dB Bandwitdh [MHz]20080143.51.80.2217580143.51.80.22
      Rise Time (10 % - 90 %)1.8 ns4.4 ns25 ns0.1 µs0.2 µs1.6 µs2.0 ns4.4 ns25 ns0.1 µs0.2 µs1.6 µs
      Equ. Input Noise [/√Hz]180 pA11 pA1.8 pA480 fA140 fA45 fA155 pA5.8 pA1.5 pA440 fA140 fA45 fA
      Accuracy PerformanceGain ±1 %
      Low Pass FilterSwitchable to 1 MHz, 10 MHz or full bandwidtd
      Output±1 V @ 50 Ω load
      Bias Voltage±10 V, max. 22 mA, connected to BNC-shield, switchable to GND
      Power Requirements±15 V, +110 mA / -90 mA typ., ±200 mA recommended
      Control InterfaceOpto-isolated digital inputs, TTL/CMOS compatible, analog offset control voltage input
      Case170 x 60 x 45 mm (L x W x H), Weight 320 g


      应用范围

      用于电流测量的电流-电压转换器

      光电探测器放大器

      快速电离检测

      光谱仪

      示波器、模数转换器和射频锁相放大器的前置放大器

      使用案例

      The effects of incident electron current density and temperature on the total electron emission yield of polycrystalline CVD diamond

      多晶氢终端化学气相沉积(CVD)金刚石层在石英钟罩式低压反应腔中制备,反应腔内部的混合气体通过微波电场实现活化。

      常规实验参数设定为:功率 2 kW、压强 100 mbar、甲烷(CH₄)体积分数 2.5%、基底温度 890 ℃。利用扫描电子显微镜对厚度为 21 μm 的金刚石层进行了微观结构与纯度表征。

      系统由低温泵搭配无油分子隔膜泵组抽真空,可将真空度维持至 5×10⁻⁸ Torr。半球形电子收集电极正对样品表面,样品台与收集极可独立施加偏压,以选取所需电势。

      样品电流通过一台 350 MHz 泰克 TDS5034B 示波器进行监测,示波器连接 Femto-DHPCA-100 型高速低噪声电流放大器。电子束垂直入射至样品表面,电子源采用具备微秒级电子束脉冲能力的 Kimball ELG2 型电子枪。

      单脉冲入射电荷量 ΔQi 通过连接至示波器的法拉第杯测得,示波器回路中串入第二台 DHPCA-100 电流放大器。

      Secondary electron emission under electron bombardmentfrom graphene nanoplatelets

      本系统采用脉冲电子束法,每次测量仅使用单个脉冲,以最小化样品接收的辐照剂量并避免表面带电效应。

      一次电子束的脉冲宽度为 200 ns,峰值电流为 4 nA。

      样品电流由示波器与 Femto DHPCA‑100 高速低噪声电流放大器 组合监测。

      单脉冲入射电荷量Q通常约为 0.8 fC/cm²。

      采用场发射扫描电子显微镜(FESEM)JEOL JSM‑6500I 对样品表面形貌进行表征。